717所红外测试系统由美国Pulse Instruments公司、Santa Barbara 红外公司和Lumitron公司的红外测试设备构成，既完成FPA级参数的测试，又完成红外热像仪系统级参数的测试。

        采用Pulse Instruments的电子设备PI-7700和SBIR公司的光学平台RTB-3000完成焦平面参数及红外传感器的测试；采用CVI公司的DK240单色仪，配上相关的部件，就可以完成相对光谱响应的测试。

        采用SBIR公司准直红外光学系统，就可以完成红外热像仪系统的参数的测量。

        采用Lumitron公司的产品MK2-SVS2000完成焦平面器件的系统成像性能分析，以确认用焦平面研制产品的最后成像系统性能，特别是非均匀性的评估。

　

被测红外热像仪和红外探测器的规格：

        我们采用的美国PI、Santa Barbara 红外和Lumitron的红外测试设备集成的红外FPA测试设备，带有可编程的FPA驱动电路接口，它不仅可以测试1024×1024元以下任意像元数的红外焦平面阵列的性能参数(包括中波红外和长波红外、制冷型和非制冷型红外焦平面阵列)，而且还能进行红外FPA热像仪系统参数的测定，具有很好的适用性及技术的先进性。

　

红外探测系统能够测试的红外热像仪参数：

         到目前为止，采用SBIR公司的RTB-3000系统，我们可以测试如下红外热像仪参数并打印出测试报告：

        1、信号传递函数SiTF。

        2、动态范围。

        3、3D噪声。

        4、时域噪声等效温差NETD。

        5、空域噪声等效温差NETD。

        6、非均匀性。

        7、调制传递函数MTF。

        8、最小可探测温差MDTD。

        9、最小可分辨温差MRTD。

        10、Ensquared Energy。

        11、比探测率D*。

　

红外探测系统能够测试的红外探测器参数：

        采用SBIR公司的面源黑体，用Lumitron公司的SAS系统可以连续录像，并对采集到的图像进行数据分析，实现红外探测器如下一些参数的测试，并打印出测试报告。

        1、直流电平。

        2、噪声Noise。

        3、噪声等效温差NETD。

        4、300K比探测率D*。

        5、响应率Responsivity。

        6、噪声等效辐射照度NEI。

        7、噪声等效辐射功率NEP。

        8、坏像元统计