红外探测器和红外焦平面性能测试系统

基本信息

生产厂家：中国成都新蓝电器责任有限公司

技术指标

响应波长：3 ~ 5和8 ~ 12 µm；

电压测量精度：nV；

温度范围：室温 ~ 400℃

温度分辨率：10 mK

控温温度稳定性：0.1 ~ 0.2 K/h

斩光频率范围：10Hz ~ 2000Hz

动态范围：60 dB

NEP：10-8 ~ 10-14 W Hz-1/2

帧速：25 ~ 100 F/s

NETD: ≤ 100 mK

应用范围

测试红外探测器单元的性能参数，如黑体响应率、探测率、噪声、噪声等效功率等；测量红外焦平面阵列的主要特性参数，如平均黑体响应电压、平均噪声电压、平均响应率、平均探测率、响应率不均匀性、噪声等效温差、噪声等效功率等。

备 注

设备编号：G5-01-OM-06

由红外信号源、斩波调制器、试样3D精密移动平台、低噪声前放系统、锁相放大器、数据分析处理系统和软件等组成